Testing and Failure Analysis
技術參數
1. 光譜分辨率,優于0.06 cm
2.覆蓋太赫茲至紫外波段的全光譜范圍
3.UltraScanTM真正準直、高分辨率的專利干涉儀
4.雙通道、24位高速模/數轉換器
應用范圍
VERTEX適用于各種極限條件下的研究工作,如:高分辨率測試、超快速掃描、步進掃描及UV擴展譜區的測量。布魯克公司獨特的數字化DigiTectTM數據采集專利技術有效防止外部信號干擾,確保了很好的信噪比
了解詳情
了解詳情